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    光耦參數(shù)測試儀

    更新時間:2019-01-04  |  點擊率:636

    光耦參數(shù)測試儀型號:JFY3010A

    JFY3010A光耦參數(shù)測試儀詳細介紹 
    ※概述: 
    JFY3010A光耦參數(shù)測試儀,是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來料檢測。 
    ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦 
    ※             測量參數(shù):

    參數(shù)指標表:

    參數(shù)

    測試參數(shù)

    測試條件設(shè)置

    輸入正向壓降(VF)

    0-2.000V

    0-400MA

    耐壓(BVCEO)

    0-1200V

    0-2.000MA

    傳輸比(CTR)

    0-3000

    VCE:0-20V IC:0-2.000A

    飽和壓降(Vsat)

    0-2.000V

    IF:0-400MA IC:0-2.00A

    輸出漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
    輸入反向漏電流(IR)0-1mAVR=4V